3.2.2. Дефекты по Шоттки

Точечные дефекты по Шоттки в основном встречаются в кристаллах с плотной упаковкой, где образование межузельных атомов затруднено или энергетически невыгодно. Некоторые атомы из приповерхностного слоя в результате теплового движения могут выйти из кристалла на поверхность (рис. 3.4). Вакансия в освободившемся узле может затем мигрировать в объем кристалла. Образование дефектов по Шоттки уменьшает плотность кристалла, т. к. растет его объем при постоянной массе, тогда как при образовании дефектов Френкеля плотность остается неизменной, поскольку объем всего тела не меняется.

 

Рис. 3.4. Образование дефекта по Шоттки

 

Измерения плотности показывают, что, например, в чистых щелочно-галоидных кристаллах преобладают дефекты по Шоттки, тогда как для чистых кристаллов галогенидов серебра характерны дефекты Френкеля.