В последнее десятилетие интерес к структурно неупорядоченным материалам резко возрос. В первую очередь это обусловлено специфичностью их физических свойств, в частности радиационной стойкостью, нечувствительностью к примесям явлениям переключения, электрической и оптической памятью. Отсюда вытекают перспективность использования их в различных отраслях приборостроения, при создании надежных устройств для работы в условиях повышенной радиоактивности. Кроме того, возможно создание на их основе электронных схем с принципиально иными свойствами, чем на основе традиционных материалов электронной техники.
Основная проблема широкого внедрения некристаллических веществ в практику - разработка методов создания систем с заранее заданными свойствами. Для ее успешного решения необходимо установление характера связи электрофизических параметров аморфных материалов с их структурой.
Одним из методов определения ближнего порядка и его действительной протяженности в некристаллических веществах является рентгенография.
Теоритические основы рассеяния рентгеновских лучей некристаллическими материалами достаточно сложны. Эксперимент требует высотой прецизионности измерений. Обработка результатов эксперимента и интерпретация данных - также процесс нетривиальный.
Между тем учебной литературы по этим вопросам нет. Отдельные стороны проблемы кратко изложены в ряде монографий. А один из самых перспективных методов интерпретации результатов дифракционных (как рентгенографических, так в электронно- и нейтронографических) исследований - метод Финбака изложен только в оригинальных статьях [11-12] и очень сжато - в книге А.И.Скрышевского [5].
Предлагаемое учебное пособие имеет своей основной целью более подробное изложение вышеуказанных вопросов и предназначено для студентов старших курсов и специалистов, работавших в данной области.